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제품 상세 정보
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이 장치는 구형 프로브를 포함하여 하나의 테이프의 10개의 다른 점의 점성 자료와 같은 10개의 다양한 점성 데이터를 테스트할 수 있으며, 단일 샘플의 평균 대표 측정값을 얻을 수 있으며 점성 지표 시스템 (Adhesive Indexing System) 에 사용된다. |
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이 장치는 구형 프로브를 포함하여 하나의 테이프의 10개의 다른 점의 점성 자료와 같은 10개의 다양한 점성 데이터를 테스트할 수 있으며, 단일 샘플의 평균 대표 측정값을 얻을 수 있으며 점성 지표 시스템 (Adhesive Indexing System) 에 사용된다. |